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SN74BCT8245ADWR

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Herstellerteil
SN74BCT8245ADWR
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
Kategorie
integrierte Schaltkreise
Familie
Logik - Speziallogik
Auf Lager
19916
Datenblätter online
-
  • Serie:74BCT
  • Paket:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
  • Teilstatus:Active
  • logischer Typ:Scan Test Device with Bus Transceivers
  • Versorgungsspannung:4.5V ~ 5.5V
  • Anzahl Bits:8
  • Betriebstemperatur:0°C ~ 70°C
  • Befestigungsart:Surface Mount
  • Paket / Koffer:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Gerätepaket des Lieferanten:24-SOIC
Versand Lieferzeitraum Bei vorrätigen Teilen werden Bestellungen voraussichtlich in 3 Tagen versandt.
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Rückgabe / Garantie Rückkehr Rücksendungen werden normalerweise akzeptiert, wenn sie innerhalb von 30 Tagen ab Versanddatum abgeschlossen sind. Bitte wenden Sie sich an den Kundendienst, um eine Rücksendegenehmigung zu erhalten.
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Garantie Alle InFortune-Käufe beinhalten ein 30-tägiges Geld-zurück-Recht sowie eine 90-tägige InFortune-Garantie gegen Herstellungsfehler.
Diese Garantie gilt nicht für Artikel, bei denen Mängel durch unsachgemäße Montage durch den Kunden, Nichtbeachtung der Anweisungen durch den Kunden, Produktmodifikation, fahrlässige oder unsachgemäße Bedienung verursacht wurden
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